基于ARM的扩散／氧化控制系统的设计
2020-09-07 08:23:12 点击：
上一篇：查找嵌入式C语言程序/软件中的缺陷的多种技术电感厂家id，LPWSTR lpszName，CEPROPID propid，DWORD dwFlags，CENOTIFYREQUEST *pReq);
写数据库：CEOID CeWriteRecordProps(HANDLE hDbase，CEOID oidRecord，WORD cProplD，CEPROPVAL *rgPropVal)，
读数据库：CEOID CeReadRecordPropsEx(HANDLE hDbase，DWORD dwFlags，LPWORD lpcPropID，CEPROPID*rgPropID，LPBYTE *lplpBuffer，LPDWORD lpcbBuffer，HANDLE hHeap);
本设计使用的S3C2440微处理器工作频率高、外围电路丰富，能够设计出友好的人机界面，易于监视和控制。本设计中温度检测精度高，整个系统的自动化程度高。系统运行证明，系统软硬件完全满足要求，运行良好。
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