注意 这种电路可以测量光耦合器启动时间
2019-12-25 06:16:59 点击：
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在实际应用的过程中，光耦合器依据其不同的灵敏度可以分为多种类型，并适用于不同的电路系统设计之中。然而，平时能够用于测试光耦合器启动与恢复时间的电路系统，却非常少。在今天的文章中，我们将会为大家分享一种能够测试光耦启动时间的电路设计，方便大家在平时工作中进行快速测试。
在本方案中，我们所设计的这种测试电路能够被用于测量光敏电阻型光耦的启动与恢复时间。这些光耦器件一般用于音频压缩器或音量控制电路。在本次的测试电路设计过程中，我们使用了一只振荡的施密特触发器，在其反馈回路中有光耦DUT（待测器件），该电路的设计情况如下图所示。
图为测量光敏电阻型光耦的启动与恢复时间的电路系统
在上图所展示的测试电路系统中，我们可以看到，在该系统中光敏电阻与电阻R1构成一个分压器，以此来控制施密特触发器的输入。被测试光耦的LED连接到触发器的输出端。用示波器或数字万用表就可以测量输出脉冲的周期。负输出脉冲的周期等于开关导通时间，或启动时间。正脉冲的周期则等于开关断开时间或恢复时间。由于启动与恢复时间取决于R1的值，因此改变R1的值就可以观察到两个时间。使用图中的元件值时，输出脉冲的周期为启动时间0.15ms，恢复时间为2.7ms。
在基于以上测试条件的基础上，我们只需要在振荡电路的反馈回路中加入一个光敏电阻，就可以测出光耦的上升时间和下降时间了。在振荡过程中，光敏电阻的阻值从RP1变化至RP2，此时这种测试电路将会根据R1、电源电压，以及施密特触发器阈值电压，扫过这些光敏电阻值，其计算过程如下式：RP1=R1×VT2/（VCC-VT2），以及RP2=R1×VT1/（VCC-VT1），其中，VT1为施密特触发器的正向阈值电压，VT2为负向阈值电压。